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鋼鐵龍頭都在用的手持式LIBS激光誘導擊穿光譜分
時間：2023-01-13 點擊次數：251
Z-300系列是世界上最先進的使用激光誘導擊穿光譜（LIBS）技術的手持式分析儀。根據型號的不同，配置的光譜范圍主要有三種：
標準范圍
l 190 nm – 950 nm（可測量H，N，O，F，Cl，Br，Rb，Ce ，K，S等）
高分辨率CCD光譜儀堆棧設計從而可以測量元素周期表中每個元素（從H-U）的特征譜線。
Z-300系列采用功能強大的激光光源，能夠以5-6 mj /脈沖的頻率運行，并具有用戶可設置的表面清潔鏡頭和光束光柵。該設計對于像現實世界中的合金這樣具有表面污染的樣品至關重要，因此無需研磨或預處理材料。在金屬的典型配置中，Z-300會以50 Hz的頻率發射激光灼燒0.2 s，清潔樣品表面，然后以10 Hz的頻率收集數據。接著分析儀將激光移至下一個位置并重復。所有這些設置都針對金屬或地球化學樣品等特定應用進行了預配置。操作員還可以針對其特定材料自定義此類設置。
與基于空氣的分析儀相比，SciAps專利技術的氬氣吹掃技術大大提高了精度和檢測極限。可更換式的迷你氬氣瓶置于手柄內，單只迷你氬氣瓶可支持600個點的測試，非常適用于現場快速檢測。
精密的激光光柵和樣品清潔
內置高清攝像頭，可進行微區定點測試，適合分析均質樣品中的特定區域和涂層材料等。
柵格化的可設置特性意味著您可以根據需要，將分析儀設置為單點或多點測試，最小可設定1個點，最大可設定16*16共256個點。可分析任何種類的樣品（如：均質材料、材料或小部件中的夾雜物或紋理以及涂層等）。
Z-300結合了用戶可控制的XY激光光柵和集成的高分辨率相機。對于異構樣本，用戶可以設置和查看柵格圖案，以分析樣本中的特定區域。
對于均質樣品，當激光束移動到樣品上的多個位置時，可以獲得最佳的LIBS結果，并將多個位置的結果自動平均。可在XY二維方向上移動激光束，并自動柵格化和平均數據。
可以設置為在同一位置發射多次激光照射，從而在進行樣品數據測試之前，將包括污垢，油污，腐蝕等在內的表面污染物燒掉，隨后在相同位置進行的激光照射用于元素分析。用戶可以根據實際需要，進行一次或多次清潔設置操作，然后重復進行數據測試，并將XY柵格化到樣品上的新位置。對于許多樣品，清潔鏡頭對于獲得可重復的精確分析至關重要。
例如，對于巖石樣品，用戶可以從集成攝像機查看樣品，并定制柵格圖案以在特定區域上執行LIBS分析。
ElementPro如何工作
測試任何樣品，無需校準。
測試僅需1-3秒，儀器會根據光譜數據，搜索儀器自帶的發射譜線專有庫，為整個元素周期表建立相對發射強度。如圖所示，儀器顯示樣本中找到的所有元素的列表，并譜線的相對豐度進行 “可能性”評估。如果已檢測到某個元素所有的發射線或大多數發射線，那么高概率存在的元素狀態將會顯示為綠色。
該分析儀具有針對特定應用（合金，地球化學等）的預配置應用程序。用戶可以創建自己的自定義分析模型，元素列表和校準曲線。可選配功能全面的ProfileBuilder軟件包，其中包括光譜預處理，化學計量，所有元素的發射線識別和定量校準設置。
標準范圍
l 190 nm – 950 nm（可測量H，N，O，F，Cl，Br，Rb，Ce ，K，S等）
高分辨率CCD光譜儀堆棧設計從而可以測量元素周期表中每個元素（從H-U）的特征譜線。
Z-300系列采用功能強大的激光光源，能夠以5-6 mj /脈沖的頻率運行，并具有用戶可設置的表面清潔鏡頭和光束光柵。該設計對于像現實世界中的合金這樣具有表面污染的樣品至關重要，因此無需研磨或預處理材料。在金屬的典型配置中，Z-300會以50 Hz的頻率發射激光灼燒0.2 s，清潔樣品表面，然后以10 Hz的頻率收集數據。接著分析儀將激光移至下一個位置并重復。所有這些設置都針對金屬或地球化學樣品等特定應用進行了預配置。操作員還可以針對其特定材料自定義此類設置。
與基于空氣的分析儀相比，SciAps專利技術的氬氣吹掃技術大大提高了精度和檢測極限。可更換式的迷你氬氣瓶置于手柄內，單只迷你氬氣瓶可支持600個點的測試，非常適用于現場快速檢測。
精密的激光光柵和樣品清潔
內置高清攝像頭，可進行微區定點測試，適合分析均質樣品中的特定區域和涂層材料等。
柵格化的可設置特性意味著您可以根據需要，將分析儀設置為單點或多點測試，最小可設定1個點，最大可設定16*16共256個點。可分析任何種類的樣品（如：均質材料、材料或小部件中的夾雜物或紋理以及涂層等）。
Z-300結合了用戶可控制的XY激光光柵和集成的高分辨率相機。對于異構樣本，用戶可以設置和查看柵格圖案，以分析樣本中的特定區域。
對于均質樣品，當激光束移動到樣品上的多個位置時，可以獲得最佳的LIBS結果，并將多個位置的結果自動平均。可在XY二維方向上移動激光束，并自動柵格化和平均數據。
可以設置為在同一位置發射多次激光照射，從而在進行樣品數據測試之前，將包括污垢，油污，腐蝕等在內的表面污染物燒掉，隨后在相同位置進行的激光照射用于元素分析。用戶可以根據實際需要，進行一次或多次清潔設置操作，然后重復進行數據測試，并將XY柵格化到樣品上的新位置。對于許多樣品，清潔鏡頭對于獲得可重復的精確分析至關重要。
例如，對于巖石樣品，用戶可以從集成攝像機查看樣品，并定制柵格圖案以在特定區域上執行LIBS分析。
測試任何樣品，無需校準。
測試僅需1-3秒，儀器會根據光譜數據，搜索儀器自帶的發射譜線專有庫，為整個元素周期表建立相對發射強度。如圖所示，儀器顯示樣本中找到的所有元素的列表，并譜線的相對豐度進行 “可能性”評估。如果已檢測到某個元素所有的發射線或大多數發射線，那么高概率存在的元素狀態將會顯示為綠色。
光譜查看
需要檢查一個或多個元素？只需點擊元素圖標，軟件就會縮放到該元素的光譜區域。點擊任意一條線，軟件將放大該特定發射線周圍的光譜區域。無論發射線在哪里，它都會顯示一個綠色的垂直線。方便用戶快速確認元素的存在。該分析儀具有針對特定應用（合金，地球化學等）的預配置應用程序。用戶可以創建自己的自定義分析模型，元素列表和校準曲線。可選配功能全面的ProfileBuilder軟件包，其中包括光譜預處理，化學計量，所有元素的發射線識別和定量校準設置。
Z-300非常適合實驗室，教室和現場使用。
Element Pro包括一個周期表中每個穩定元素的LIBS發射線的內置庫。只需測試一個樣本，并根據光譜峰，通過算法獲得存在的元素列表。Element Pro還基于各種材料中測得的線強度，提供相對豐度的定性分析。點擊一個元素以獲取標識存在線條的縮放光譜視圖。Element Pro是一款理想的應用程序，可快速測試材料以發現存在的元素，而無需進行定量校準。
根據金屬材料缺陷位置及正常位置測得的元素線強度相對豐度的對比，來輔助判斷造成缺陷的原因，可能來自某些主元素的成分差異，或者來自某些微量元素的差異。為金屬表面缺陷分析提供數據支持。
