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與Si-PiN二極管探測器相比,SDD:
-能夠處理更高的計數率
-分辨率更低(更好)
-背景水平較低
較高的計數率意味著在許多應用中,管可以在較高的電流下工作,因此可以在與管腳相同的測試時間內達到較低的LOD。
更好的分辨率意味著分析器可以更好地分離重疊的峰,這意味著對于區域靠近的元素,LOD更低。較低(較好)的分辨率對于最輕的元素Mg/Al/Si尤其重要。
較低的背景水平意味著較少的誤差引入的背景減法,這也導致較低的LOD。
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